【产品体验邀约】Moku:Delta开放样机试用！助力加速半导体器件测试验证流程！

半导体技术飞速发展，IC测试与验证的复杂性不断增加。如今被测设备（DUT）涉及模拟、数字和混合信号领域，高度集成 ADC/DAC、运放、控制环路和 DSP 等，使测试任务在精度、时序控制和功能覆盖上变得更加复杂且要求更高。因此，传统测试系统的配置不断扩大，包含示波器、波形发生器、频谱分析仪、频率响应分析仪、逻辑分析仪等多个仪器，这些设备通常来自不同供应商，自动化程度和配置要求差异较大，工程师需要额外编写程序并通过电缆连接它们。虽然这种传统的分立式测试方案能够满足当前的测试需求，但也意味着需要投入大量配置时间、维护校准精力和经济成本。

Moku凭借其强大的可重构测试技术，集成了15+种仪器功能于一台设备中。通过多仪器并行模式，用户可以灵活组合不同的测试功能，支持多DUT并行测试，大大加速产品验证和测试流程。最新型号 Moku:Delta 拥有8个输入/输出通道，2GHz带宽和超低底噪，兼具灵活性与高性能，为半导体IC测试与验证提供更精准、更高效的解决方案。

为助力您的研发与创新，我们现开放Moku：Delta样机试用通道。如您有兴趣深入了解产品性能，请点击文末“阅读原文”填写表单，即可申请免费试用。

Moku在半导体器件与IC测试验证中的优势
1. 高度集成，简化测试系统

多种仪器功能（波形发生器、任意波形发生器、码型发生器、频率响应分析仪、示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪等）在单一 FPGA 平台上运行；

无需多台独立仪器即可完成复杂测试，减少设备采购、布线、参考同步及长期维护与校准成本；

内置专业仪器功能（锁相放大器、相位表、时间间隔与频率分析仪等），满足复杂 DUT 测试需求。

2. 优化信号保真度与抗干扰能力

多通道 ADC/DAC（高达 8 路）实现 DUT 信号的高保真采集与激励；

多仪器并行模式（MiM）支持最多 8 个仪器同时运行，仪器间数字互联和时钟总线设计减少物理线缆，降低噪声、相位和时序偏差；

支持外部参考源输入，兼顾系统同步灵活性。

3. 提升测试效率与自动化能力

单一硬件平台运行统一时钟，减少跨设备参考同步和触发复杂度；

高度统一的 GUI 和 API 规范，简化自动化测试流程，降低学习成本和开发周期；

灵活快速部署不同仪器功能组合，减少人为错误，提高测试效率。

4. 可重构与自定义能力

FPGA 可编程性允许自定义信号处理算法，与其他仪器功能无缝结合；

随需求迭代，可快速更新测试测量系统配置，适应不同 DUT 类型和测试场景；

支持实时分析与反馈控制（PID 控制器、数字滤波器等），提升精度和系统稳定性。

5. 面向未来的多通道与高通量测试

支持多通道并行测量，满足高通量测试需求；

降低测试时间和成本，同时保持高保真度和数据可靠性；

系统化解决复杂 DUT 测试和混合信号交互的挑战。

免费样机试用

欢迎您申请在线演示或样机试用，请邮件联络info@aphoton-oe.com。