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首页    B&WTek    Exemplar® LS (BRC115P-U) 高性能低杂散光CCD光谱仪
Exemplar® LS (BRC115P-U) 是一款具有板载数据处理、USB3.0通信和温度补偿功能特点的智能光谱仪。采用了低杂散光的非交叉型Czerny-Turner。Exemplar® LS 针对多通道操作进行了优化,提供超低的触发延迟和门电路抖动。此外,Exemplar® LS 具备2048个像元的探测器、内置16位模数转换,读出速度>2.0MHz。 Exemplar® LS 标准配置为:光谱范围200 - 850nm,狭缝25μm,LVF滤光片,刻线光栅(600g/mm/250nm),光谱分辨率1.5nm。也可以按照顾客定制配置。

Exemplar® LS (BRC115P-U) 高性能低杂散光CCD光谱仪

联系方式

电话/微信:15611514533
邮箱:info@aphoton-oe.com
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产品详情

Exemplar® LS   BRC115P-U  文件下载 


产品介绍

 

产品应用:
紫外/可见/近红外波段光谱分析
吸收/反射/透射测量
动力学反应监测
瞬态光谱分析
波长鉴别
OEM系统集成
多点采样
 
产品特点: 
温度补偿功能实现超低热漂移
最低1ms积分时间
光谱低杂散光
光谱分辨率 >0.4nm 
>2.0 MHz读出速度
紫外-近红外(200nm -850nm) 
智能:板载数据处理功能,包含平均、光谱平滑以及暗噪声扣除。
速度:当设置积分时间为1050us时,每秒可采集和传输>900张光谱。
同步:支持多达32通道的多通道操作,同时也提供低触发延迟(35ns)和门电路抖动(+/-5ns)。
 
附件:
直通式滤光片支架
光纤探头 
光纤 
比色皿支架 
光源
 
软件:
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择,并可以设置扫描参数,如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外,还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
 
信噪比:

   
   
   
   

板载平均 1次

~295

板载平均10次

~929

板载平均100次

~2450

 

狭缝:

     
     
     
     
     
     
     

狭缝

尺寸

光谱分辨率200-400nm

10µm

10µm x 1mm

~0.4nm

25µm

25µm x 1mm

~0.6nm

50µm

50µm x 1mm

~1.0nm

100µm

100µm x 1mm

~1.6nm

200µm

200µm x 1mm

~3.0nm

客户定制可选


衍射光栅:

     
     
     
     

建议响应波段

光谱范围(nm)

光栅

­­UV

200 - 400

1800/250

UV – NIR

200 - 850

600/250

客户定制可选

 

 

技术参数:

 

型号

BRC115P-U

电源

USB 供电,<0.5A

探测器

响应增强型线性CCD阵列

光谱范围

200nm - 850nm

探测器像元

2048 x1 像元阵列 @ 像元尺寸14μm x 200μm

光谱仪f/#

3.6

光谱仪设计

Czerny-Turner

动态范围

1300:1

数字分辨率

16-bit 或 65,535:1

­­读出速度

>2.0 MHz

数据传输速度

>900谱/秒,在突发模式下

触发延时

35ns +/- 5ns

积分时间

1ms,调节步长1us

温度漂移

~29 Counts/℃  (最大值)

Aux 接口

外部触发控制,数字I/O口

工作温度

5 - 35℃

工作相对湿度

85%,无冷凝

重量

0.37 kg

尺寸

124mm x 91mm x 35mm

数据接口

USB 3.0 / 2.0

操作系统

Windows: 7, 8, 10 (32位& 64位)

 

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