产品特性：
紫外-近红外波段
>0.2nm 光谱分辨率
TE制冷/控温
16位数字转换
500 kHz 读出速度
即插即用USB 2.0数据传输
提供OEM版本
应用：
紫外/可见/近红外波段：光谱分析/光谱辐
射测量/分光光度测定
长积分检测
吸光度测量
反射率测量
OEM光学仪器组件
产品附件：
软件：
BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择，并可以设置扫描参数，如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外，还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。
TE半导体致冷：
采用内置的TE制冷器对阵列探测器进行制冷是降低暗噪声的有效手段，在增加探测器的动态范围同时提高了其检测限。
当CCD探测器从室温25℃降低到14℃时，其暗电流降低约4倍，其暗电流噪声将降低约2倍。这使得光谱仪可以进行长积分时间检测以及弱光检测。
技术参数：
| 型号 | BTC112E |
| 直流输入 | 5V DC, <1.5A |
| 交流输入 | 100-240VAC 50/60 Hz,0.5A@120VAC |
| 探测器类型 | 响应增强型线性CCD阵列 |
| 探测器像元 | 2048 x1 像元阵列 @ 像元尺寸14μm x 200μm |
| 光谱仪f/# | 3.2 |
| 光路类型 | 交叉式Czerny-Turner |
| 动态范围 | 1300:1 |
| 数字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 读出速度 | 500 kHz |
| 数据传输速度 | 可达180谱/秒（USB 2.0） |
| 积分时间 | 5 - 65,535ms |
| Aux接口 | 外部控制，数字I/O口 |
| 工作温度 | 15 -35℃ |
| 工作相对湿度 | 85%非冷凝 |
| TE 制冷 | 14℃ |
| 重量 | 0.6 kg |
| 尺寸 | 127.0mm x 39.0mm x 90.7mm |
| 数据接口 | USB 2.0/1.1 |
| 操作系统 | Windows: 7, 8, 10, 11 |
