Exemplar® Plus LS

Exemplar® Plus LS

高性能智能光谱仪

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商品描述

高性能智能光谱仪


Exemplar® Plus LS (BTC645N)是一款高性能智能光谱仪,利用像差校正的凹面全息光栅来有效地降低杂散光。配备了TE制冷的背照式线性CCD探测器,具有很高的分辨率和灵敏度以及较高的动态范围。通过较长的焦距和高量子效率的探测器相结合,可在整个180nm-1100nm的光谱范围内提供优秀的数据质量。 Exemplar® Plus LS 具有较高的信噪比,是低杂散光应用的理想选择,特别是在紫外线范围内。其内置一个快门,可在光照环境下获得高质量的暗光谱。作为Exemplar®系列的产品,它具有板载数据处理和USB 3.0通信的功能。Exemplar®系列针对多通道操作进行了优化,提供超低的触发延迟和门电路抖动。 标准配置为:光谱范围190nm-1100nm,光谱分辨率为 0.6nm-6.0nm。此外,可根据客户要求定制配置和提供应用支持。


应用:

  • 弱光条件下低紫外-近红外波段光谱分析

  • 荧光光谱分析

  • 在线过程监测

  • LCD显示测量

  • 生物光谱分析

  • 太阳模拟表征

  • 吸收光谱分析

  • 辐照度测量

 产品特点:

  • 紫外/可见/近红外响应高

  • 2048个像元

  • 200nm处量子效率大于60%

  • 设置制冷温度 (默认0°C)

  • 峰值量子效率80%,

  • 内置快门

  • 超低的杂散光

 智能:板载数据处理功能,包含平均、光谱平滑以及暗噪声扣除。
速度:当设置积分时间为6.3ms时,每秒可采集和传输>140张光谱。同步:支持多达32通道的多通道操作,同时也提供低触发延迟(95ns)和低时间抖动(+/-20ns)。 使用50g/L亚硝酸钠(NaNO2)按照ASTM®进行杂散光测试,在没有使用任何软件校正的情况下,结果显示杂散光小于0.1%。 附件:

  • 光纤探头

  • 光纤采样支架

  • 光纤

  • 光源


软件:BWSpec®光谱数据采集软件可执行复杂的测量和计算。它允许用户在多种数据格式之间进行选择,并可以设置扫描参数,如积分时间。除了强大的数据采集和数据处理功能外,还包括自动去除暗电流、光谱平滑和手动/自动基线校正等功能。并可额外提供带演示代码的SDK。  

信噪比:
板载平均 1~540
板载平均10~1900
板载平均100~4800

狭缝:

狭缝尺寸光谱分辨率190-1100nm
10µm10µm x 1mm~2.0nm
25µm25µm x 1mm~2.5nm
50µm50µm x 1mm~3.2nm
100µm100µm x 1mm~6.0nm
客户定制可选

衍射光栅:

建议响应波段光谱范围(nm)
UV180 - 450
UV - Vis190 - 800
Vis400 - 800
UV - Vis - NIR190 - 1100
Vis - NIR350 - 1050
客户定制可选



技术参数:

型号BTC645N
电源5V DC @ 3.0A (启动时最大值)
探测器背照式CCD阵列
光谱范围180nm - 1100nm
探测器像元2048个有效像元
像元尺寸14µm x ~ 0.9mm
光谱仪f/#3.0
光谱仪设计全息光路
动态范围500001
数字分辨率16-bit  65,5351
读出速度>400KHz
数据传输速度>140/秒,积分时间6.3ms,在突发模式下
触发延时95ns +/- 20ns
积分时间6.3ms,调节步长1us
Aux 接口外部触发控制,4路数字信号输出(2路控制快门),2路数字信号输入模拟信号输入模拟信号输出和系统复位信号
工作温度5 - 35
工作相对湿度85%,无冷凝
CCD制冷默认0(环境温度25时)
重量1.2 kg
尺寸178mm x 108mm x 67mm
数据接口USB 3.0 / 2.0
操作系统Windows: 7, 8, 10 (32& 64)